Publicado originalmente en NDT.net, julio 2026
El método de enfoque total (TFM) se utiliza ampliamente en los ensayos por ultrasonidos por arreglo de fases (PAUT) para la detección, caracterización y dimensionado de indicaciones. La obtención de imágenes mediante coherencia de fase (PCI) ofrece capacidades complementarias, especialmente para reflectores débiles, difractivos y pequeños o complejos. Este artículo presenta la integración de ambas técnicas de END de obtención de imágenes con la tecnología IWEX de Applus+, que permite adquirir datos TFM y PCI simultáneamente sin comprometer la velocidad de adquisición.
Para evaluar los beneficios de este enfoque de doble modalidad, se escanearon ambas caras de una probeta que contenía una soldadura en V con porosidad, una grieta en la raíz y una grieta en la interfaz de la soldadura. También se realizaron mediciones adicionales en reflectores de agujero lateral (SDH) y en una probeta que contenía fisuras causadas por ataque de hidrógeno a alta temperatura (HTHA). Los datos de captura de matriz completa (FMC) se adquirieron y procesaron simultáneamente y en tiempo real para generar imágenes TFM y PCI, permitiendo una comparación directa de ambas técnicas.
Los resultados demuestran que TFM y PCI proporcionan información complementaria: TFM es especialmente eficaz para reflectores especulares, mientras que PCI mejora la detección y caracterización de respuestas débiles y difractivas. En el caso del SDH, PCI proporcionó una mejora de 12 dB en la diferenciación respecto al ruido de fondo en comparación con TFM. PCI también permitió una resolución más clara de las características de las grietas y mejoró la detectabilidad de pequeñas fisuras de HTHA, mientras que TFM captó eficazmente indicaciones especulares, como las faltas de fusión.
Por lo tanto, la adquisición simultánea de datos TFM y PCI mejora la detección, caracterización e interpretación de una amplia variedad de tipos de indicaciones, proporcionando a los inspectores una evaluación más completa y fiable de componentes críticos.
Para más información, contacte con nuestros expertos en ensayos no destructivos o lea el artículo completo en inglés en: https://www.ndt.net/search/docs.php?id=33606
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